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CNAS-CL31:2011《内部校准要求》,是CNAS 对检测实验室内部校准工作进行了规范,用以保证检测结果的测量溯源性。2“内部校准”与“自校准”是不同的术语内部校准:在实验室或其所在组织内部实施的,使用自有的设施和测量标准,校准结果仅用于内部需要,为实现获 的检测活动相关的测量设备的量值溯源而实施的校准。
各个 要根据自己的实际情况决定,需要什么准确度等级,就选择什么等级。该高就高,该低就低,不盲目追求高准确度,以免造成不必要的损失;但精度过低,满足不了使用要求,给工作带来损失,也是不可取的。使用 的维护保养能力,如果 的维护保养比较好,则适当缩短仪器校准周期;反之,则长一些。
应用领域
几乎所有的型企业都离不二次元测量仪。
二次元测量仪广泛应用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器,磁性材料、精密五金、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、计算机(电脑)、液晶电视(LCD)、印刷电路板(线路板、PCB)、汽车、器械、钟表、仪器仪表、螺丝、簧、齿轮、凸轮、螺纹、半径样板、螺纹样板、电线电缆、具、轴承、冲压件、筛网、试验筛、水泥筛、网板(钢网、SMT模板)等。
工作原理
二次元影像仪本身的硬件CCD以及光栅尺,通过USB及RS232数据线传输到电脑的数据采集卡中,将光信号转化为号,之后由影像测量仪软件在电脑显示器上成像,由操作员用鼠标在电脑上进行快速的测量。以上的工序基本在几万分 秒完成,所以可以把他看作是实时检测设备,或者狭隘的称为动态测量设备。如果电脑配置附合要求,测量软件不会产生图像滞后现象。根据测量工件大小的不同,也可以选择不同行程的工作台面。光源亮度可以在各种光线条件下选择 合适的光源亮度。光源类型(分为底光和表面光)可根据测量工件来进行调节控制以达到的效果。
测量原则
基本测量原则
在实际测量中,对于同一被测量往往可以采用多种测量方法。为减小测量不确定度,应尽可能遵守以下基本测量原则:
(1)阿贝原则:要求在测量过程中被测长度与基准长度应安置在同一直线上的原则。若被测长度与基准长度并排放置,在测量比较过程中由于误差的存在,方向的偏移,两长度之间出现夹角而产生较大的误差。误差的大小除与两长度之间夹角大小有关外,还与其之间距离大小有关,距离越大,误差也越大。
(2)基准统一原则:测量基准要与基准和使用基准统一。即工序测量应以工艺基准作为测量基准,终检测量应以设计基准作为测量基准。
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2.4从设计发到投入使用阶段的测试工作任务繁重LIMS系统发前期,需要将所有符合要求的 体系文件录入系统;在实际测试中,同一项监测任务,实验室人员需要对原始记录、交接记录、分析记录、同时进行人工录入和计算机录入,进行重复劳动。
目前已明确的仪器校准规范包括以下:《超声波燃气表》地方 规程征求意见发布超声波燃气表广阔的发展前景将为行业企业带来诸多发展机遇。需要注意的是,相应的 规程却没有得到及时的制定,这给产业发展形成了不小障碍。
由P区引出的电极为阳极,由N区引出的电极为阴极,如下图所示,温度对二极管的性能有较大的影响,这是由于半导体材料的特性所致,温度升高时,二极管的正向压降将减小,每增加1oC,正向压降减小约2mV,可以从下图看出,由半导体理论可以得出,PN结所加端电压u与流过它的电流i的关系为:其中,Is为反向饱和电流,对于硅材料来说,Is约为10pA;q为电子的电量,q=1.6*10 3J/K;T为温度,kT/q可以用UT来代替,则常温下,即T=300K时,UT约为26mV。
只有严格执行仪器校准周期,才能保证科研生产等各项活动的顺利进行。为保证量值准确可靠,必须科学的确定仪器校准周期。3仪器校准周期不合理会怎样。随着时间的推移,测量仪器的仪器校准周期是否合理,取决于仪器校准合格率,也取决于仪器的历史仪器校准记录,可将其作为 基本的依据。